回路基板電気特性測定解析検査機

SYSTEM 8 検査テスターモジュール

ABI BoardMaster SYSTEM 8 モジュール

 検査テスターや制御部をモジュール化したABI SYSTEM8は、アプリケーションに合わせ検査テスターモジュールを任意の数で組合せ、モジュール組込ケースに組込み、最適なシステムとして使用いただけます。
 付属ソフト「UltiMate」により、各モジュールの検査・比較検査の設定を行い、付属ソフト「TestFlow」により検査機能の切換を行います。
 

AMS VI特性検査モジュール
 Advanced Matrix Scanner

V-I電気特性検査による、ユニークな非通電状態での部品検査やテスト信号の周波数を変化させDUT(検査対象部品)の周波数応答を観察できます。範囲を広げたマトリックスV-I 特性やパルス出力によるゲート動作部品(トライアック、トランジスタ、IGBT等.) の動的テストも行えます。
付属ソフト「Ultimate」で、VI特性の情報の取得やテストを行います。
  • 周波数スイープでV / I特性分析
  • V / I特性解析(静的周波数)
  • マトリックスV / Iテスト(複数基準)
  • サイリスタなどゲート部品のダイナミックV / Tテスト(パルス出力)
  • 測定同時自動比較
  • 保存されたマスクと自動比較
  • IC識別
AMSモジュールのおもな機能:-
  • 3D V-I Tester (3D電気特性検査テスター)
  • Matrix V-I Tester(マトリックス電気特性検査テスター)
  • 4 チャンネルパルス出力
  • 64 チャンネル/モジュール
 

AICT アナログ部品IC検査モジュール
 Analog IC Tester

プリント回路基板 (PCB)に取り付けたままで、アナログ部品(ディスクリートやIC) をテストする機能と IC やディスクリート部品の型式取得ができます。
付属ソフト「Ultimate」でアナログICの情報の取得やテストを行います。
  •   アナログIC機能テスト
  •   接続・電圧テスト
  •   グラフ解析 (VI)
  •   マトリクスV/Iテスト
  •   パルスによるVTテスト
AICT モジュールのおもな機能:-
  • Analogue IC Tester(アナログIC動作確認テスター)
  • Analogue V-I Tester(アナログ部品電気特性検査テスター)
  • 24 チャンネル/モジュール
  

ATM ロジック部品基板機能検査モジュール
 Advanced Test Module

不良IC特定、ショート/断線/接続配線チェック、不安定入出力動作検査、ダイオードやトランジスタなどディスクリート部品やDIL・PLCC・VLSI・SOICなどの基板での浮きやリークを特定します。さらに、不良ロジック部品の互換部品検索を行えます。
付属ソフト「Ultimate」でロジックICの情報の取得やテストを行います。
  •    すべてのロジックファミリ・デジタルICや基板を診断(TTL、CMOS、LVTTL、ECL、DTL、LSI、RTL、PECL、LVPECLなど)
  •    電源オン/電源オフでのテスト
  •    機能、電圧、接続、熱およびVIテストですべての一般的な障害を検出
  •   カスタマイズされたテストベクトルのためのグラフィカルなテストジェネレータ
  •   電圧操作駆動/測定とVIテストによるボードチェッカー機能
  •   短絡位置
  •    初心者も容易なパス/フェイル結果
ATMモジュールのおもな機能:-
  • Advanced IC Tester (IC動作確認テスター)
  • Advanced IC Identifier(型式不明IC検索機能)
  • Advanced Short Locator(短絡詳細ローケータ機能)
  • Advanced Graphical Test Generator(グラフィック検査プログラム作成機能)
  • Advanced Board Checker(ショート/断線/接続配線チェック機能)
  ·   64 チャンネル/モジュール
(最高2048チャンネルまで拡張可)

BFL 基板故障位置検査モジュール
 Board Fault Locater

一般的デジタルICを回路内外で機能的に検査し、不良を検出します。
付属ソフト「Ultimate」でロジックの障害情報や位置情報を取得します。
  • インサーキットとボード診断(TLL/ CMOS)
  • 回路入出力ライブラリによる真理表テスト
  • カスタムロジックテスト
  • 接続・電圧・温度・V/Iテスト
  • IC識別
  • 短絡位置検出
  • EPROM検証テスト
BFL モジュールのおもな機能:-
  • IC Tester( IC確認テスター)
  • IC Identifier(型式不明IC検索機能)
  • Live Comparison instrument (デジタルIC ライブ比較検査機能)
  • Short Locator (短絡ローケータ機能)
  • Graphical Test Generator instrument(グラフィック検査プログラム作成機能)
  • EPROM Verifier (EPROM 比較機能)
  • Output Driver (出力駆動機能)
  • 64 チャンネル/モジュール
    (最高256チャンネルまで拡張可)
 

MIS4 複合マルチ計測器モジュール
 
Multiple Instrument Station

1台のユニットで、8種類の計測器機能を備えたモジュール。ファンクションジェネレータとプログラマブルユニバーサル入出力I/Fを組合せ、疑似信号を発生可能です。
付属ソフト「Ultimate」で設定制御し動作させます。
  • デジタルストレージオシロスコープ
    3 channel, 350MHz
  • フローティングマルチメータ
    電流計  0 to 10A
    電圧計     0 to 500V
    抵抗計     0 to 10MOhm 
  • ファンクションジェネレータ
    channel 0.5Hz to 25MHz
    DC, square, sine, triangle, ramp+, ramp-
  • ユニバーサルカウンタ
    DC to 1.1GHz
  • ユニバーサルI/O(プログラマブル入出力I/F)
    8 channel analogue/digital I/O
  • 補助電源
    +3.3V/1A, +5V/1A, +12V/100mA, -12V/- 100mA
  • 計算値データログ機能
 
オシロスコープ
ユニバーサルI/O
ユニバーサルカウンタ
信号発振器
マルチメータ
補助電源
 

PPS プログラマブル電源モジュール
 Programabe Power Supply

付属ソフト「Ultimate」で、デバイスや基板などに加える電圧や電流制限などを設定できる3Chアイソレーション電源モジュールです。3Chを、直列接続/並列接続が可能で、2Chを使用し正負電源となります。
 
  • 各チャンネル電源容量:0 - 40 V 40W8AMax
  • 過電圧設定、過電流設定可能
  • 直列接続時: 0 - 120V 120W8AMax
  • 並列接続時: 0 - 40V 120W24AMax 
  • 電圧・オン/オフのソフトウェアによる切替制御
 

SYSTEM 8  ソフト

WindowsOSで動作するソフト、装置構成の設定・各種アプリケーションの検査内容設定・検査内容と測定データの比較を行う『Ultimate』、各構成モジュールを制御し検査シーケンスを実行する『TestFlow』が付属します。

付属基本ソフト Ultimate 

検査機基本ソフト機能
  • 装置モジュール構成の組込設定
  • 検査/解析の設定と計算/表示機能
  • 各モジュールの制御
  • 一括処理ソフト『TestFlow』の設定自動生成
  • 良否結果の判定
  • 検査記録とレポートのユーザ設定
検査機基本ソフト『Ultimate』は、各検査の内容や条件設定のみでなく、良否 Pass/Fail しきい値を設定し『良品』検査ができます。
 
グラフィカル ユーザー インターフェイスは、機器を明確かつ迅速にメニューを選べます。このツールバーは、TestFlowsのコンテンツ (動画、Pdf、画像、ドキュメントなど) をより多く使用可能にできます。機器メニュー マネージャーを使用し、機器の配置も変更できます。
 
AMSモジュールを使用した場合、3 D V-Iテスターとマトリックス V-I テスター両方を検査でき、非通電状態で部品の劣化詳細などを把握できます。
 
 

付属ソフト TestFlow 

一括処理ソフト『TestFlow』は、『Ultimate』で設定した各検査の内容を、ステップシーケンスとして一括処理できます。
 
良品同時ライブ比較や良品データ比較を行い、複数検査解析項目の『良品/不良』の点検を一括処理でき、各検査解析項目ステップごとに『良品/不良』を切り分けできます。
 
 
検査解析・測定診断 一括処理
アナログ/デジタル/アナログデジタル混在/パワーデバイス回路や各部品の点検を、付属ソフト『Ultimate』と『TestFlow』による複数検査内容の一括検査で、不良個所を特定できます。
修理を容易にする検査測定 レポート出力
高い不良検出能力と詳細不良解析の検査測定レポートにより、修理が容易です。
 検出した不良箇所の測定検査詳細を自動生成保存した検査測定レポートで検証でき、容易な修理ができ、修理後の確認検査も1台で行えます。

『TestFlow』 には、画像、回路図、データシート、写真や動画などを組込め、経験技術者の知識や基板関連の情報を盛り込め、テストポイント、検査方法、操作指示、統計レポートなどが、わかりやすい形式で画面表示され、複雑な装置のテストも画面表示に従って検査を行え、基板の知識や経験が少ない方も容易に検査を行えます。
良品比較による良否判定シーケンス各ステップのレポートも自動生成し、故障発見が容易です。
 
『TestFlow』により、 基板の知識や経験が少ない方もお使いいただけます。
 
 
システム 8 『TestFlow』 マネージャーはステップごとにカスタマイズすることができ、レポート関数を提供します。レポート マネージャーを使用して、ログやカスタマイズ可能なレポートにデータの完全な範囲の表示やレポート テンプレートを変更することができます、例えば標準の html エディターを使用して、会社のロゴを含めることなどができます。
 

SYSTEM 8  ソフト Premier

『Premier 』は、ハードウェアとシームレスな利用を可能とするシステム ソフトウェアです。直感的なWindowを含むシステムで高度な制御を行えます。
  •  ユーザー ・ アクセス ・ マネージャー
  • 『TestFlow』自動テスト マネージャー
  • 機器デザイン マネージャー
  • 機器メニュー マネージャー
  • カスタム電卓機能
  • 柔軟なデータ ・ ロガー
『Premier』 の中心は、サブソフト『TestFlow』です。テストおよび操作-スピードアップだけでなく不良の発見アプローチの概念をそなえていますが、利用には多少の経験がいります。
『TestFlow』 は、障害の発見テストのすべてのパラメータを記録することによって不正確な測定のリスクを低減する整然とした、ステップ バイ ステップのプロシージャに変換します。技術者は、プロセスの各段階を設定し、結果を記録によって特定の PCB のテスト プロシージャ、または テストシーケンス を書くことができます。回路図、ビットマップ画像、あるいはノートやタスクを支援するための指示により、基板の知識も必要となります。経験が浅い方は、最も複雑な機器の広範なテスト シーケンスを実行する画面表示に従って操作ができます。
『TestFlow』 自動テスト マネージャーは、ボードの良否比較によって自動的に文書化された故障発見レポートを生成します。テスト ポイント、テスト メソッド、演算子の指示およびレポート ジェネレーターの統計関数形式のわかりやすい画面上で利用可能です。
 
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