回路基板電気特性測定試験検査機信頼性評価、故障対策、保守に対応が可能。電源供給無し非通電のVI電気特性測定などで、重症故障を含む基板検査・不良個所検出・不良部品確認・良品確認を行う電気特性測定試験検査機です。 複合電子計測器 多機能テスター MIS41台で、オシロ・発振器・カウンタ・デジタルマルチメータ・ユニバーサル入出力I/F・4Ch直流電源の8機能を備え、電源供給し同時に信号印可/波形観測/周波数電圧電流抵抗測定などができる多機能複合電子計測器です。 ﾃﾞﾊﾞｲｽ/部品/IC/基板 動作テスター非破壊評価法で、デバイス/部品/ＩＣ/基板の試験検査を行い、故障発見や未然に劣化などの故障防止を可能とします。 周波数スイープＶＩ特性テスター非破壊評価法で、デバイス/部品/ＩＣ/基板の試験検査を行い、故障発見や未然に劣化などの故障防止を可能とします。 アナログ部品ＩＣテスター非破壊評価法で、デバイス/部品/ＩＣ/基板の試験検査を行い、故障発見や未然に劣化などの故障防止を可能とします。 ロジック部品基板テスター非破壊評価法で、デバイス/部品/ＩＣ/基板の試験検査を行い、故障発見や未然に劣化などの故障防止を可能とします。 基板故障位置テスター非破壊評価法で、デバイス/部品/ＩＣ/基板の試験検査を行い、故障発見や未然に劣化などの故障防止を可能とします。 ハンディ アナログＩＣテスター・ロジックＩＣテスターアナログＩＣ・ロジックＩＣを、テスター感覚で検査できる、低価格のハンディタイプのICテスターです。 基板非破壊リバースエンジニアリング装置リバースエンジニアリング、回路図復元基板復元システムです。故障基板も含めた基板から回路図を自動生成し、廃番部品を現況部品に置換した回路図にも変更でき、復元基板やリニューアル基板を作製できます。 JTAG バウンダリスキャンテスター / PLDプログラミング付 バウンダリスキャンテストとPLDのプログラミング機能で、オーダーメイドのプログラムの機能検証やデバイスプログラムの再テストも行えます。 偽造ＩＣ検出器２ピン部品から複雑なBGAまで、不正確なピン配置やインピーダンス変化を検出しライブラリ比較で、偽造ICや部品を素早く検出します。 ABI ELECTRONICS社 アクセサリー電気特性検査、各テスターに使用するプローブ・クリップ・アダプターを取り揃えています。
