回路基板電気特性測定解析検査機

回路基板電気特性測定解析検査機

電気特性検査機 

英Abi社 BoardMaster 

重症故障回路基板も可能な非通電での V I 電気特性測定などで、基板検査・不良個所検出・不良部品確認・良品確認を行う電気特性測定検査機で、信頼性評価、故障対策、保守に対応が可能です。
故障解析/故障原因個所特定/修理後の確認計測によるプリント基板修理と、測定データと良品設定データ/良品検査データ/良品基板との比較による検査ができ、故障未然予測を含む基板保守・動作確認試験・電気特性測定検査を行える汎用性を備えています。

アプリケーションに合わせ選択組合せした複数の検査テスターモジュールを、検査項目や検査内容の付属ソフトによる設定で、各モジュールをパソコンで制御しながら、測定や検査を行います。
  • 製品開発時などで不良個所を効率よく検索できる「半自動検査」
  • 開発品各タイプの特性比較や全数検査データが容易に得られる「全自動検査」
  • 量産レベルの検査やメンテナンス作業を簡単操作で行う「良品比較検査」
により、幅広くご利用いただける電気特性検査機です。
 

おもな用途

  • インサーキットテスト
  • ファンクションテスト
  • 部品・デバイスの電気特性テスト
  • 基板・回路・部品の良品比較
  • 保守修理基板・小ロットや試作品の動作確認
  • 基板や回路の故障個所特定
  • 基板・回路・部品の特性測定解析
  • 基板回路ケーブルの接続/断線チェック
  • 劣化部品予測
 

特長 

  • 基板・回路・部品を扱える汎用性
  • インサーキット/ファンクション/部品デバイス動作/ケーブル接続テストが可能
  • 充実した高性能検査解析機能
  • 複数項目の設定値検査やライブ比較検査を、一括して検査測定
  • 全自動/半自動の検査測定による、高い作業性
  • 故障個所特定を容易にする、自動検査/測定詳細レポート生成保存 
  • 重症故障基板も、非通電で安全に検査
  • アナログ/デジタル/混在回路を測定検査
  • 小型、低価格
電源供給無しで、基板や回路から、モジュールやデバイスまで、検査・不良部特定・不良確認ができ、修理後動作確認計測を行えます。
汎用性に優れた接続(フィクスチャーコネクタ/コネクターコネクタ/プローブーコネクタ/クリップーコネクタなど)で、基板や回路からモジュールやデバイスまで、保守点検・基板修理・電気特性検査が可能です。
検査解析機能と疑似信号も発生できる計測器機能の組合せで、点検・故障個所特定・修理後動作確認も行えます。
検査・データ収集するソフトが付属しています。
検査解析内容を設定し検査を行う検査測定解析ソフト『Ultimate』、設定した各ステップの検査を行い、繰返しテスト・長時間スケジュールテストも可能な一括処理ソフト『TestFlow』が付属しています。
一括処理による検査や良品比較で、効率的に保守点検ができます。
検査測定解析ソフト『Ultimate』は、検査解析機能など各検査の条件設定のみでなく、良否Pass/Failしきい値設定により、『良品』検査ができます。
一括処理ソフト『TestFlow』は、それぞれの検査解析を、ステップシーケンスとして一括処理できます。
良品同時ライブ比較や良品データ比較を行い、複数検査解析項目の『良品/不良』の点検を一括処理で点検できます。 各検査解析項目ステップごとの『良品/不良』の切り分けのみでなく、各ステップで検査測定値など含んだ検査測定レポートファイルが自動生成保存され、故障個所特定を容易に行えます。
 
検査解析・測定診断 一括処理
レポート設定例

クリックで拡大

高い不良検出能力と詳細不良解析の自動検査測定レポートにより、修理が容易です。
アナログ・デジタル・デジタルアナログ混在・パワーデバイス回路や部品の点検を、付属ソフト『Ultimate』と『TestFlow』による複数検査解析項目の一括検査で故障個所を特定検出します。
 検出した故障不良箇所を、測定検査の詳細を自動生成保存された検査測定レポートで検証でき、容易な修理ができ、修理後の検査も1台で行えます。
修理を容易にする検査測定 レポート出力例
クリックで拡大
 
非通電状態の検査で、重症故障基板も、安全に検査できます。
 重症故障基板も、非通電状態の検査で安全に不良故障個所を検出します。
カスタマイズ検査機で、効率的に検査できます。
検査/測定モジュールを組み合わせカスタマイズし、汎用性ある専用検査機になります。
 同種のモジュールは複数組み合わせで、検査対象規模の拡大に合わせ拡張できます。
   ※ 通電状態用に、各種の回路に対応できる電源モジュールを用意しております。
場所をとらないデスクトップタイプです。
 作業テーブル上に設置できるコンパクトな検査機で、広いスペースは不要です。

鉄道設備・車両検査での導入例動画
 
 

 汎用性ある検査方法

半自動検査

一次試作品検査などで、不良個所を効率よく検索でき、短時間に良品を完成できます。
付属パソコンソフト『Ultimate』で作成した検査と検査内容を、サブソフト『TestFlow』で検査シーケンスを実行し、各ステップで測定ポイントを画面指示し検査します。

全自動検査

全数検査などで、検査データを自動生成でき、品質管理が容易になります。
付属パソコンソフト『Ultimate』で作成した検査と検査内容を、サブソフト『TestFlow』で検査シーケンスをスタート操作のみで実行し、検査を行います。
ABI Electronics社 自動検査

良品比較検査

量産検査に最適な良品比較検査は、専門知識なしで検査できます。
付属パソコンソフト『Ultimate』で作成した検査テスト項目を、スタート操作のみでサブソフト『TestFlow』で検査と検査内容を実行し、実行した検査データと良品の検査データと比較し、PASS/FAIL 良否結果と特性比較を同時に表示し、検査測定レポートを自動生成し保存します。
基板レベル・回路レベル・、部品レベルで、汎用性ある、測定検査が可能です

SYSTEM8 検査テスターモジュール

 検査テスターや制御部をモジュール化したABI SYSTEM8は、アプリケーションに合わせ同一サイズの検査テスターモジュールを任意の数でモジュール組込ケースに組込み、最適なシステムとして使用いただけます。
 付属ソフト「UltiMate」により、各モジュールの検査・比較検査の設定を行い、付属ソフト「TestFlow」により検査機能の切換を行います。

モジュール詳細

AMS VI特性検査
AICT アナログ部品IC検査
ATM ロジック部品基板検査
BFL 基板故障位置検査
MIS4 複合マルチ計測器
PPS プログラマブル電源
 
MMS 結線切換ユニット 

モジュールと基板などの間に使用し、パソコン制御で入出力チャンネルを拡大でき、結線切換なしで、半自動/全自動検査が可能です。
結線切換ユニットによりケーブル交換だけで全基板のファンクションテストを一括テスト可能
プローブで、簡単操作インサーキットテスト


自動アダプタで周囲部品に影響されずにICを測定検査

 フィクスチャ利用で量産基板検査にも対応
 

システム構成詳細

 システムは、以下の構成とWindows PC により、汎用性ある検査に対応しています。
検査測定解析ソフト『Ultimate』 
 検査/測定の設定を行い、検査/測定モジュールを制御し、検査/計測を行います。良否比較機能を備えています。
 
各種の検査/測定モジュール自動結線切換ユニット
 各モジュールはケーブルやプローブで基板や回路と接続し、USBでPCと接続します。PCにインストールした『Ultimate』ソフトにより制御され、検査/測定を行います。
アプリケーションに合わせ組合わせ可能で、組込ケースに収納し使用します。
 
プローブ/クリップ/フィクスチャ/ケーブル
基板/回路/部品やデバイスと検査/測定モジュールを接続します。基板/回路/部品やデバイスと接続方法に合わせ、選択し使用します。
 
一括処理ソフト『TestFlow』 
『Ultimate』で設定した個々の解析検査機能を、シーケンシャルに一括実行します。スケジュール実行も可能です。自動レポート機能を備え、検査結果により、故障がある場合、故障箇所や原因を追跡できます。
 
検査/測定モジュールの詳細はこちら
Abi Electronics System 8 Modules
自動結線切換ユニットについてはこちら

 
 
5モジュール用
7モジュール用
ラックタイプ
組込みケース
組込みケースについてはこちら
 
BoardMaster Plusは、パソコン・モニターを内蔵した一体型で、省スペースの操作しやすく汎用性が高いテスト・システムです。 Abi Electronics BoardMaster

動画 

代表的な検査項目

 System8 BoardMaster は、アナログ/デジタル/デジタルアナログ混在回路やパワーデバイスなどで構成された回路や基板を、充実した検査解析方法を組み合わせ、一括処理により、効率的に確実な検査解析を行う高い能力を備えています。
 
ケーブル接続チェック
ショート/断線/部品接続


 
使用モジュール
ATMロジック部品基板検査モジュール
ケーブルを自動スキャンし、断線や他のケーブルとのショート、ケーブル間のしきい値設定による部品接続の正否を確認できます。
短絡テスト

使用モジュール
BFL基板故障位置検査モジュール、ATMロジック部品基板検査モジュール
配線インピーダンスを測定し、配線の短絡位置の特定や高インピーダンス接続箇所を確認できます。
供給電源確認


使用モジュール
PPSプログラマブル電源モジュール
電圧と最大/安全電流設定によりPASS/FAIL表示が可能、基板への電源供給と消費電流を確認できます。
基板検査

使用モジュール
ATMロジック部品基板検査モジュール
通電状態での電源確認、V-Iカーブにより基板をテストします。
ディスクリート部品特性解析
(V-I)

 
使用モジュール
AICTアナログ部品IC検査モジュール、AMSVI特性検査モジュール
非通電状態の基板で、コンデンサやダイオードのリークや特性不良を検出し、故障部品の種類と構造を未然に特定します。
インサーキットV-Iテスト

使用モジュール
AICTアナログ部品IC検査モジュール、AMSVI特性検査モジュール
非通電状態でV-Iカーブのチェック・自動比較を行い、回路の短絡や断線を検査できます。
マトリックス V-I解析


使用モジュール
AICTアナログ部品IC検査モジュール、AMSVI特性検査モジュール
非通電状態で、デジタル・アナログICの詳細解析と故障チェックや比較検査を行います。
基板レベルVIテスト

使用モジュール
ATMロジック部品基板検査モジュール、又はAMSVI特性検査モジュール
非通電時のアナログ機能テストと通電時の電源テストの複合基板テストで、基板が正しく動作しているか確認します。
セミコンダクタ 動的テスト

使用モジュール
AICTアナログ部品IC検査モジュール、AMSVI特性検査モジュール
非通電状態で、トライアック・トランジスタ・サイリスタなどゲート動作デバイスの動的動作を、V―Tモードでテストします。
ディスクリート部品機能テスト

使用モジュール
AICTアナログ部品IC検査モジュール
回路内ディスクリート部品を基板から外さず結線したまま、部品の働きをテストプログラムにより確認します。
デジタルIC テスト確認

使用モジュール
ATMロジック部品基板検査モジュール、
BFL基板故障位置検査モジュール
接続/電圧の温度依存・ロジック部品のアナログ特性V-Iカーブでの確認・良品データとの比較により、接続違いや内部故障のICを他の基板のデータと比較します。
デジタルIC鑑定


使用モジュール
ATMロジック部品基板検査モジュール、
BFL基板故障位置検査モジュール
品名や型番が不明の動作デジタルICの同等品を特定できます。
ロジックテストジェネレータ


使用モジュール
ATMロジック部品基板検査モジュール、
BFL基板故障位置検査モジュール
デジタルIC・カスタムICの機能テストや実装基板のカスタムテストのシーケンスを自動学習機能で生成します。
デジタルIC 機能テスト


使用モジュール
ATMロジック部品基板検査モジュール、
BFL基板故障位置検査モジュール
基板に組み込まれたままのデジタルICの機能を、テストプログラムで正確に確認にします。
アナログIC 機能テスト

使用モジュール
AICTアナログ部品IC検査モジュール
基板に組み込まれたままのアナログICの機能を、テストプログラムで正確に確認します。
EPROM比較

使用モジュール
BFL基板故障位置検査モジュール
EPROMの内容をチェックサム対応で読込み、同類基板の全EPROMが同じか比較確認します。
信号測定


使用モジュール
MIS4複合マルチ計測器モジュール
通電や非通電状態で、計測器ユニットのファンクションジェネレータとプログラマブル信号入出力I/Fによる疑似信号の印可と測定により、基板上部品の特性と値を確認できます。
カスタムテスト

使用モジュール
MIS4複合マルチ計測器モジュール、他モジュール
複雑なテストシーケンスを、カスタマイズテスト設定により、最少作業で短時間に検査できます。
信号比較テスト

使用モジュール
AMSVI特性検査モジュール、AICTアナログ部品IC検査モジュール、MIS4複合マルチ計測器モジュール
変化する入力信号に対する部品の応答を、任意の回路位置で確認できます。

 

※ それぞれの検査解析には、対応するモジュールの組合せが必要となります。
 

電子機器基板修理 点検保守検査機 BoardMasterラインナップ

モジュールとケースの組合せにより、使用環境に合わせた、高いコストパーフォーマンスの検査機を形成できます。
 

標準組合せ ラインナップ

目的 品名 組込ケース(USB) 構成
汎用標準タイプ
デジタルアナログの
インサーキット/
基板テスト
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2008 7モジュール形 1x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
BoardMasterR-2008 ラックタイプ 1x64ch ATM_ロジック部品基板機能検査モジュール
  1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
1xBFL, ATM, AMS, AICT, MIS4, PPS
アナログ
基板テスト・
基板比較検査
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2010 7モジュール形 2x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
BoardMasterR-2010 ラックタイプ 1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
  1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
1xPPS, MIS4, AICT, AMS, 2xBFL
多数デジタルと
アナログの
インサーキット
テスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2009 7モジュール形 2x64ch ATM_ロジック部品基板機能検査モジュール
BoardMasterR-2009 ラックタイプ 1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
  1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
1xPPS, MIS4, AICT, AMS, 2xATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-2012 7モジュール形 1x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
BoardMasterR-2012 ラックタイプ 1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
BoardMaster5-2012 5モジュール形 1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
  1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
1xPPS, MIS4, AICT, AMS, BFL
アナログ
基板テスト・
基板比較検査
測定検証用
BoardMaster7-0003 7モジュール形 2x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
BoardMasterR-0003 ラックタイプ 1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
BoardMaster5-0003 5モジュール形 1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
  1xPPS_プログラマブル電源モジュール
1xPPS, MIS4, AICT, 2x BFL
デジタルアナログの
インサーキットテスト・
部品劣化検出と
測定検証用
BoardMaster7-230 7モジュール形 1x64ch ATM_ロジック部品基板機能検査モジュール
BoardMasterR-2306 ラックタイプ 1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
BoardMaster5-2306 5モジュール形 1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
  1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
1xPPS_プログラマブル電源モジュール
1xPPS, MIS4, AICT, AMS, ATM
アナログの
基板テスト・
部品劣化検出用
BoardMaster7-0005 7モジュール形 1x64ch BFL_基板故障位置検査モジュール
BoardMasterR-0005 ラックタイプ 1x64ch AMS_VI特性検査モジュール
BoardMaster5-0005 5モジュール形 1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
  1xPPS_プログラマブル電源モジュール
1xPPS, AMS, AICT, BFL
多数デジタルと
アナログの
インサーキットテスト・
測定検証用
BoardMaster7-2003 7モジュール形 2x64ch ATM_ロジック部品基板機能検査モジュール
BoardMasterR-2003 ラックタイプ 1xAICT_アナログ部品IC検査モジュール
BoardMaster5-2003 5モジュール形 1xMIS4_複合マルチ計測器モジュール
  1xPPS_プログラマブル電源モジュール
1xPPS, MIS4, AICT, 2x ATM
 
※ 規模拡大やその他の構成の組合せも可能です。詳しくはお問い合わせください。
  
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