回路基板電気特性検査機電源供給無し非通電のVI電気特性測定などで、重症故障を含む基板検査・不良個所検出・不良部品確認・良品確認を行う電気特性測定検査機です。 ﾃﾞﾊﾞｲｽ/部品/IC/基板 動作テスター非破壊評価法で、デバイス/部品/ＩＣ/基板の検査テストを行い、故障発見や未然に劣化などの故障防止を可能とします。 複合マルチ計測器機能 万能テスター8種の同時計測機能を１台で！ 独立したコネクタにそれぞれを接続し、同時に効率よく複数の計測ができ、測定データの自動収集もできます。 基板非破壊リバースエンジニアリング装置リバースエンジニアリング、回路図復元基板復元システムです。故障基板も含めた基板から回路図を自動生成し、廃番部品を現況部品に置換した回路図にも変更でき、復元基板やリニューアル基板を作製できます。 JTAG バウンダリスキャンテスト / PLDプログラミング バウンダリスキャンテストとPLDのプログラミング機能で、オーダーメイドのプログラムの機能検証やデバイスプログラムの再テストも行えます。 偽造ＩＣ検出２ピン部品から複雑なBGAまで、不正確なピン配置やインピーダンス変化を検出しライブラリ比較で、偽造ICや部品を素早く検出します。 コンパクト アナログＩＣテスター・ロジックＩＣテスターアナログＩＣ・ロジックＩＣを、テスター感覚で検査できる、低価格のハンディタイプのICテスターです。 ABI ELECTRONICS社 アクセサリー電気特性検査、各テスターに使用するプローブ・クリップ・アダプターを取り揃えています。
