回路基板V-I特性測定装置

JTAG バウンダリスキャンテスト JTAGMaster

ABI JTAGテスター/プログラミング JTAGMaster


プローブ接続が物理的に不可能なデバイス検査も、チップ内部の回路を数珠繋ぎにし、内部状態を順番に読み出すバウンダリングスキャンテストとプログラマブル・ロジック・デバイス(PLD)プログラミングの両方を行えます。
   
BGAエラー個所表示例
Abi Electronics社のJTAGテスター

可能なテスト

  • 製造欠陥テスト
  • ロジックエラー
  • プログラムエラー
  • 回路構成欠陥
サポートプロトコル
  • シリアル・ペリフェラル・インタフェース(SPI)
  • 集積回路間(I²C)
  • マイクロワイヤ(μwire)

 特長

テストとPLDのプログラミングの機能により、ダウンロードしたオーダーメイドのプログラムとの機能検証やデバイスをプログラムした後の再テストが行えます。業界標準のJAM STAPLファイル(標準テストとプログラミング言語)とSVFファイル(シリアルベクタフォーマット)を扱えるプログラミング・インタフェースを装備しています。
  • 個別ピンのグラフィックモニター表示
  • 基板動作中もテスト可能
  • ピンの個別制御モードあり
  • JTAG接続での比較記録
  • テストシーケンス資料作成

機能

  • バウンダリスキャン検査
  • JAM/SVF プログラミング
  • JTAGチェーン自動検知
  • JTAG/IEEE 1149.1規格
  • USB接続
  • 供給電源内蔵(1.8-3.3V)
仕様
  • 電源  5V 500mW  ( USB 端子供給)
  • 大きさ 83 x 52 x 16 mm
  • 重さ 200g
  • 接続パソコン Microsoft® Windows、 RAM: 512 MB、HDi  空き領域: 200MB、USB ポート (x2)
付属
  • 10 & 14-pin ISP インターフェースケーブル
  • USB Cケーブル


動画

 
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