回路基板VI電気特性測定試験検査装置

ABI ELECTRONICS社 アクセサリー

ABI 推奨テストアクセサリー

ABI アクセサリ USBリレーコントローラ

4 種の外部接続を USB 経由で切り替えとオンとオフを制御するために使用します。 Ultimateソフトウェアは、自動的にリレーをアクティブまたは非アクティブのためにコントローラにコマンドを送信します。例えば、これらのリレーは、照明システム、アラームまたは電源装置の出力に接続できます。
USBリレーコントローラ アプリケーション例
USBリレーコントローラは、インサーキットロジック部品基板機能テスター(ATM)の使用時、可変電源モジュール (VPS)をお持ちでない場合に便利です。
この場合、外部電源とボードやテスト対象デバイスの間にリレーコントローラを接続します。インサーキットロジック部品基板機能テスター(ATM)で部品をテストする時、リレーコントローラにより必要なときに1 回のクリックで両方の電源をオンオフし、自動的に電源を供給できます。
​​​​フィクスチャ利用で量産基板検査にも対応

ABI  アクセサリ アウトオブサーキット自動アダプタ

 アウトオブサーキット自動アダプタは、SYSTEM 8 のATMとBFLモジュールで、ICの回路基板外部でのテストに使用します。
ATM フロントパネルまたはBFL フロントパネルにテストケーブルコネクタで接続します。40 ピンIC をテストできるようになります。ICは1 番ピンが上向きで ZIF ソケットの下部に挿入します。モードを、セットアップ メニューでインサーキットin-circuitから回路基板外部out-of-circuitに変更する必要があります。ソフトウェアの操作はインサーキットin-circuitモードのテストと同じです。
別売 SOIC / PLCCアダプタ
SOIC と PLCC パッケージの広い範囲に使える、アダプタです。
このアダプタは、アウトオブサーキット自動アダプタのテストのZIF ソケットに挿入し、SOIC と PLCC パッケージICを回路基板外部でテストできます。SOIC アダプタは16、28 ピンパッケージで利用可能で、20、28、32 ピンのパッケージ用の PLCC アダプタがあります。

検査テストのプローブ・クランプなど

ABI EZ Prober

  EZ プローバは、表面実装部品をテストするためのユニークなプロービングソリューションです。
1.27 mm ピッチのSOIC パッケージなど小さなデバイスのピンでの良好な接触の確保は、困難な場合があります。EZ プローバは、可能な限り安定したプロービングができる軽いバネ負荷のプローブです。スタイリッシュで人間工学に基づいた外形のEZ プローバは、ABIテスター (オシロ スコープなど) に使用できる完全なソリューションです。 
EZ プローバは、自動的にテストを実行するフットスイッチと組み合わせて使用でき、両手が完全にフリー状態で、テストに集中できメモおよび調整を維持することができます。 
標準のEZ プローバは、平行するピン間ゲージ幅がSOIC パッケージ用で、2ピンから28ピンのパッケージに対応しています。 ただし、EZ プローバは、異なるピッチ ゲージと特定のデバイスに合わせてカスタマイズことができます。
EZ プローバ標準品 
  • ゲージ幅5.5mm, 1.27 mmピッチ 16ピン
  • ゲージ幅10mm, 1.27 mmピッチ 28ピン
Note: 標準の表面実装部品のプロービングとして (パッド1点半田付け) ピンのフラットエッジで使用は、右の画像です。メーカー間のサイズの違いにより、ゲージ幅が異なる場合があります、対象の部品をチェックすることをお勧めします。プローブをパッケージに最も近いピンのエッジで使用も可能です。
EZ プローバ準標準品 
 EZ プローバは、プローブやゲージの数を変更することによって、アプリケーションに合わせカスタマイズできます。詳細についてはお問い合わせください
ゲージ幅詳細
  • ゲージ幅3.0mm, 1.27 mmピッチ 16ピンSOIC 用
  • ゲージ幅4.0mm, 1.27 mmピッチ 16ピンSOIC 用
  • ゲージ幅4.2mm, 1.27 mmピッチ 16ピンSOIC 用
  • ゲージ幅5.0mm, 1.27 mmピッチ 16ピンSOIC 用
  • ゲージ幅5.7mm, 1.27 mmピッチ 16ピンSOIC 用
  • ゲージ幅6.0mm, 1.27 mmピッチ 16ピンSOIC 用
  • ゲージ幅7.8mm, 1.27 mmピッチ 28ピンSOIC 用
  • ゲージ幅8.0mm, 1.27 mmピッチ 28ピンSOIC 用
  • ゲージ幅9.0mm, 1.27 mmピッチ 28ピンSOIC 用
 

ABI   アクセサリ クランプケーブル アクセサリーパック

ほゞ全部の場合に対応でき、テスターの能力を最大限に活用できます。  

ABI  アクセサリ DualInLine形状用 テストクリップセット

  このテストクリップセットは、標準DIL パッケージをカバーします。堅牢で、周波数スイープVI特性テスターAMS・アナログ部品テスターAICT・ボード障害ロケータBFL ・インサーキットロジック部品基板機能テスターATM モジュールには、不可欠です。
  • 0.3" 幅IC用テストクリップセット 8, 14, 16, 20, 22, 24 ピン用
  • 0.6"幅IC用テストクリップセット 22, 24, 28, 32, 40, 64 ピン用  

ABI  アクセサリ マルチ プローブ 

  IC やコネクタの接続が困難な場合、マルチプローブは、理想的なソリューションです。ばねを内蔵したプローブ端子で、安全に8ピンや10ピンの部品を、片手で同時にプローブできます。
 
  • 0.05"(1.27 mm) ピッチ 10 ピン (soic パッケージ & PLCC)
  • 0.100" (2.54 mm) ピッチ 8 ピン (DIL)  
 

ABI アクセサリ  ペンプローブセット 

  4本のペンプローブセットは、アナログ IC テスター モジュールで使用し、SMT ディスクリート部品やDILの複数ピンを同時プローブし、容易にテストできます。スプリングピンにより、良好な接触が得られます。

仕様
  • タイプ 1: 3 ピン (SOT 23 用)
  • タイプ 2: 3 ピン (TO72 等)
  • タイプ 3: 3 ピン (TO220 用)
  • タイプ 4: 3 ピン (TO92 用)
 

 ABI  アクセサリ デジタル SOIC テストクリップ セット ・ ケーブル アセンブリ

ボ ード障害ロケーターBFL と インサーキットロジック部品基板機能テスターATM モジュールで使用される、SOIC パッケージのデジタル IC のテスト用に、2種類の幅で8 ピンから 28 ピンのサイズのクリップとアセンブリのセットを用意しています。  
仕様
8,14,16 ピン狭いと 20,24,28 ピン テストクリップとケーブルアセンブリで構成しています。
 

 ABI  アクセサリ アナログ SOICテストクリップ・ケーブル アセンブリ

  SOIC パッケージのアナログ ICのテスト用に、標準的なパッケージをカバーするケーブル クリップとアセンブリのセットを用意しています。
仕様
8,14,16 ピンのテストクリップとケーブルアセンブリを使用します。
 

ABI アクセサリ PLCC テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ

高度なアプリケーションに、様々なサイズPLCC をカバーするクリップケーブルを用意しています。  SOIC 16 PIN
  • 20 ピン PLCC テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
  • 52 ピン PLCC テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
  • 28 ピン PLCC テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
  • 68 ピン PLCC テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
  • 44 ピン PLCC テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
  • 84 ピン PLCC テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ

 ABI  アクセサリ QFP テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ

  高度なアプリケーションに、様々なサイズQFP をカバーするクリップケーブルを用意しています。
100 ピン QFP テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
144 ピン QFP テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
160 ピン QFP テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
208 ピン QFP テストクリップ ・ ケーブルアセンブリ
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