回路基板VI電気特性測定試験検査装置

デバイス/部品/IC/基板 動作テスター

Abi Electronics ATM

SYSTEM8 デバイス/部品/IC/基板 動作テスター ラインナップ 英Abi社

SYSTEM8 検査テスター各機種は、非破壊評価法による、デバイス・部品・IC・基板の故障や劣化を発見する検査テストで、短時間の修理 や未然の故障防止を行えます。
付属パソコンソフト『Ultimate』で検査テストを作成し、サブソフ ト『TestFlow』で、USB接続したSYSTEM8 検査テスターを制御し 複数検査テストを順次行い、検査結果を出すことができます。
 
各テストに合わせたSYSTEM8 テスターをラインアップしています。
周波数スイープ
 VI特性テスター 

SYSTEM8 AMS
System 8  Advanced Matrix Scanner
 
周波数範囲および電源オフ条件で部品のV/I特性が得られ、リーク、破損、不整合、不正確なコンポーネント、短絡や開回路の検出や比較検査ができます。
アナログ部品
ICテスター 

SYSTEM8 AICT

アナログIC及びディスクリート部品のインサーキット機能テストが可能で、一般的なアナログデバイスは、基板上に実装した状態でテストできます。ゲートデバイステスト用にパルス発生機能があるカスタマイズ可能なV/Iテスターも含んでいます。
 
ロジック部品
基板 テスター 

SYSTEM8 ATM

TTL、CMOS、LVTTL、ECLなどロジック系のすべてのデジタルICや基板のテストと検査を行えます。電源オンと電源オフでテストできます。
基板故障位置 
テスター
 
SYSTEM8 BFL

TTL/CMOSデジタルICのテストができ、 多数テストチャネルによる広いテスト範囲で、機能テスト、接続と電圧テスト、V/I解析、熱試験ができ、基板の良否検査や比較検査ができます。
  
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