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| 周波数スイープ ＶＩ特性テスター SYSTEM8 AMS 
周波数範囲および電源オフ条件で部品のV/I特性が得られ、リーク、破損、不整合、不正確なコンポーネント、短絡や開回路の検出や比較検査ができます。
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アナログ部品 ＩＣテスター SYSTEM8 AICT 
アナログIC及びディスクリート部品のインサーキット機能テストが可能で、一般的なアナログデバイスは、基板上に実装した状態でテストできます。ゲートデバイステスト用にパルス発生機能があるカスタマイズ可能なV/Iテスターも含んでいます。 |
ロジック部品 基板 テスター SYSTEM8 ATM 
TTL、CMOS、LVTTL、ECLなどロジック系のすべてのデジタルICや基板のテストと検査を行えます。電源オンと電源オフでテストできます。 |
基板故障位置 テスター SYSTEM8 BFL 
TTL/CMOSデジタルICのテストができ、 多数テストチャネルによる広いテスト範囲で、機能テスト、接続と電圧テスト、V/I解析、熱試験ができ、基板の良否検査や比較検査ができます。 |
| 共通付属ソフト | テストアクセサリー類詳細 |
