回路基板V-I特性測定装置

デバイス/部品/IC/基板 動作テスター

SYSTEM8 デバイス/部品/IC/基板 動作テスター ラインナップ 英Abi社

SYSTEM8 検査テスター各機種は、非破壊評価法による、デバイス・部品・IC・基板の故障や劣化を発見する検査テストで、短時間の修理 や未然の故障防止を行えます。
付属パソコンソフト『Ultimate』で検査テストを作成し、サブソフ ト『TestFlow』で、USB接続したSYSTEM8 検査テスターを制御し 複数検査テストを順次行い、検査結果を出すことができます。
 
各テストに合わせたSYSTEM8 検査テスターをラインアップしています。
System 8  Advanced Matrix Scanner
周波数スイープ
VI特性テスター

SYSTEM8 AMS

 
周波数範囲および電源オフ条件で部品のV/I特性が得られ、リーク、破損、不整合、不正確なコンポーネント、短絡や開回路の検出や比較検査ができます。

アナログ部品IC
テスター

SYSTEM8 AICT

アナログICおよびディスクリート部品のインサーキット機能テストが可能で、一般的なアナログデバイスは、基板上に実装した状態でテストできます。ゲートデバイステスト用にパルス発生機能があるカスタマイズ可能なV/Iテスターも含んでいます。

ロジック部品基板
テスター

SYSTEM8 ATM

 
TTL、CMOS、LVTTL、ECLなどロジック系のすべてのデジタルICや基板のテストと検査を行えます。電源オンと電源オフでテストできます。

基板故障位置
テスター

SYSTEM8 BFL

 
TTL/CMOSデジタルICのテストができ、 多数テストチャネルによる広いテスト範囲で、機能テスト、接続と電圧テスト、V/I解析、熱試験ができ、基板の良否検査や比較検査ができますます。
 

周波数スイープVI特性テスター SYSTEM8 AMSモジュール


部品内部のリーク
部品内部の短絡不良
部品値の違いや変化
                        を検出します。
 印加する電圧電流範囲を通常動作の範囲に限定する繰返し評価が可能な非破壊の評価方法 V-I(電流-電圧)特性測定により、半導体やコンデンサなどの部品の内部リークや短絡不良・値変化を検出し、未然に部品劣化による故障を防げます。
 
 
同一デバイスの置かれた温度・応力などの環境を変化させながらの多角的な評価や、周波数をスイープした動的 V-I特性測定データを良品やライブラリーデータと比較し、より詳細な判断も可能です。
操作手順画像などを組込み可能な付属ソフト「Ultimate」とテストをスケジュールできる「TestFlow」ソフトにより、容易な操作で点検保守を行えます。
電源OFFのテストで安全 3D V-I 特性 
フィクスチャレス、プローブ交換による高い汎用性
容易な設置が可能なデスクトップ型
電源オフ状態で、周波数スイープしたVI特性が得られます。
  • 周波数スイープでV / I特性分析
  • V / I特性解析(静的周波数)
  • マトリックスV / Iテスト(複数基準)
  • ダイナミックV / Tテスト(パルス出力)
  • 同時測定自動比較
  • 保存されたマスクと自動比較
  • IC識別
  • 4 チャンネルパルス出力
  • 64 チャンネル/モジュール
  • 周波数をパラメータにした3D解析も可能
20PinIC検査と
各ピンの10-10KHz VI特性3Dデータ表示
ABI Electronics社VI特性分析 周波数スイープ
プローブ使用検査
10-50HzV-I特性データ3D表示
周波数スィープによる
V-I特性データ表示

アナログ部品ICテスター SYSTEM8 AICTモジュール

  • アナログ機能テスト
  • ボード比較での故障診断
  • 明確な良否判定
  • 回路図不要でテスト
  • 24 のアナログ チャンネル
  • 強力なマトリックス V-Iテスト
  • ゲート アクティブ デバイス (トライアック、サイリスタ等) のパルス V T 検査定
  • 自動クリップ位置設定
 
 
VI アウトサーキットアダプタ(オプション)

基板上の他のコンポーネントからの影響なしで、V-I特性が得られます。
このアダプタは、3 つのパッケージオプションを使用可能で、24 ピンICを一括してアウトサーキット V-I 特性が得られます。
  • デュアル ・ インライン (DIL、24ch、「0.3 と 0.6」ゲージ)
  • 外形 IC (soic パッケージ、24ch、0.6"幅)
  • 外形 IC (soic パッケージ、14 ch、0.3"幅)

ロジック部品基板テスター SYSTEM8 ATMモジュール

 高度な柔軟性の高いテスト機能と包括的な故障診断を提供するソリューションです。強力なテストの組み合わせは、個々の部品や基板レベルを、機能確認・接続・電圧・熱およびVI特性テストを行えます。必要最低限の操作で、部品と基板を効率的にテストし、短時間で不良個所を見つけ出します。
 
  • すべてのロジック部品やデジタル部品実装基板を診断(TTL、CMOS、LVTTL、ECL、DTL、LSI、RTL、PECL、LVPECLなど)
  • 電源オン/電源オフでのテスト
  • 機能、電圧、接続、熱およびVIテストですべての一般的な障害を検出
  • カスタマイズされたテストベクトルのためのグラフィカルなテストジェネレータ
  • 電圧操作駆動/測定とVIテストによるボードチェッカー機能
  • 短絡位置
  • 初心者も容易なパス/フェイル結果
  • 使いやすいソフトを付属
  • 64 チャンネル/モジュール (最高2048チャンネルまで拡張可) 

基板故障位置テスター SYSTEM8 BFLモジュール

  • インサーキット/アウトサーキットテスト (TLL or CMOS)
  • スルーホールやSMT部品テスト (DIL, SOIC, PLCC, QFP)
  • ロジックICからCPUまでのライブラリ比較
  • カスタムロジックICテストに対応可能
  • デジタル V-I テスト
  • デジタル IC 確認
  • EPROM 比較
  • 短絡位置検出
  • TestFlow ソフトによるスケジュリングテスト可能
(64 チャンネル ステップ)256 チャンネルまでアップグレードできます.
 
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